貝克曼庫爾特 LS™ 200 系列雷射繞射粒徑分析儀

貝克曼庫爾特 LS™ 200 系列雷射繞射粒徑分析儀是一套多功能的粒徑特性分析工具系統。其採用了專利的先進雷射技術，能夠在分析樣本時，不會遺漏最大或最小的顆粒。

LS 技術基於光散射理論。相較於其他基於雷射的儀器，LS 以其廣泛的動態尺寸範圍、尺寸通道數量和樣本測量選項而脫穎而出。

規格：
– 深度：22.2 公分（8.75 英吋）
– 高度：41.9 公分（16.25 英吋）
– 濕度：0-90%，無凝結
– 探測器數量：126
– 光學控制：自動對齊和內置光學設計
– 粒徑分析範圍：0.375 µm – 2000 µm
– 功耗：小於 6 安培 @ 90-125 VAC；小於 3 安培 @ 220-240 VAC
– 樣本模組：乾粉；微量（12 毫升）；小容量（125 毫升）；標準流體（1.2 升）
– 技術：弗勞恩霍夫繞射雷射、米氏散射 PIDS（偏振強度差異散射）
– 溫度範圍：10 °C 至 40 °C
– 典型分析時間：15 秒至 90 秒
– 重量：32.5 公斤（71.5 磅）
– 寬度：100.7 公分（39.63 英吋）
– 尺寸通道數量：92